《Ieee Design & Test》影響因子查詢可以通過以下幾種方法：

1.?通過期刊官網(wǎng)或數(shù)據(jù)庫查詢

期刊官網(wǎng)：訪問Ieee Design & Test的官方網(wǎng)站。
Journal Citation Reports (JCR)：由Clarivate Analytics發(fā)布，是專門提供期刊引證報(bào)告的工具，可通過期刊名、ISSN/EISSN號等進(jìn)行檢索，查看期刊的影響因子及分區(qū)情況。

2.?通過學(xué)術(shù)平臺或工具查詢：

知網(wǎng)：國內(nèi)研究者可以使用中國知網(wǎng)的高級檢索功能，勾選“期刊導(dǎo)航”后輸入刊名，在詳情頁查看復(fù)合影響因子、綜合影響因子等本土化指標(biāo)。

3.?通過圖書館或?qū)W術(shù)資源

中科院分區(qū)查詢：過中科院的分區(qū)查詢系統(tǒng)，輸入期刊名稱即可查看影響因子和分區(qū)。

《Ieee Design & Test》雜志是一本由IEEE Computer Society出版，專注于工程技術(shù)-計(jì)算機(jī)：硬件領(lǐng)域研究的學(xué)術(shù)期刊，創(chuàng)刊于2013年，其ISSN為2168-2356，E-ISSN為2168-2364。該刊為6 issues/year，重點(diǎn)介紹在COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE領(lǐng)域的最新關(guān)鍵主題。這些文章旨在為尚未深入研究該領(lǐng)域的讀者提供最新的、完整的主題總結(jié)，幫助他們快速了解相關(guān)領(lǐng)域的核心內(nèi)容。

該雜志已被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄， 在中科院分區(qū)中，《Ieee Design & Test》位于大類學(xué)科：工程技術(shù)，分區(qū)為4區(qū)，小類學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計(jì)算機(jī)：硬件，分區(qū)為：4區(qū)。

而在JCR分區(qū)中，它被歸為Q3。這表明該期刊在計(jì)算機(jī)：硬件領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。