來源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:40:21
《Ieee Design & Test》中文名稱：《IEEE設(shè)計(jì)與測試》，創(chuàng)刊于2013年，由IEEE Computer Society出版商出版，出版周期6 issues/year。
《IEEE 設(shè)計(jì)與測試》提供原創(chuàng)作品，介紹用于設(shè)計(jì)和測試微電子系統(tǒng)（從設(shè)備和電路到完整的片上系統(tǒng)和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側(cè)重于當(dāng)前和近期的實(shí)踐，包括教程、操作方法文章和真實(shí)案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術(shù)進(jìn)步以及技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者的觀點(diǎn)。主題包括半導(dǎo)體 IC 設(shè)計(jì)、半導(dǎo)體知識產(chǎn)權(quán)模塊、設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和測試技術(shù)、制造和產(chǎn)量設(shè)計(jì)、嵌入式軟件和系統(tǒng)、低功耗和節(jié)能設(shè)計(jì)、電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具、實(shí)用技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)。
旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)等。
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| Edge Intelligence-On the Cha... | 8 |
| ZeNA: Zero-Aware Neural Netw... | 7 |
| Context-Aware Intelligence i... | 7 |
| Hierarchical Electric Vehicl... | 7 |
| A Survey on Security Threats... | 6 |
| Survey of Automotive Control... | 5 |
| Voltage-Driven Building Bloc... | 5 |
| Quantum Computing Circuits a... | 5 |
| Design-for-Testability of On... | 5 |
| CPU-FPGA Coscheduling for Bi... | 4 |
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE ACCESS | 57 |
| IEEE T COMPUT AID D | 52 |
| IEEE T VLSI SYST | 38 |
| INTEGRATION | 35 |
| J ELECTRON TEST | 29 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 25 |
| IEEE T COMPUT | 21 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
| MICROPROCESS MICROSY | 15 |
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 27 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 21 |
| NATURE | 20 |
| IEEE T VLSI SYST | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 17 |
| PHYS REV LETT | 17 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| NAT COMMUN | 16 |
| P IEEE | 14 |
| IEEE COMMUN SURV TUT | 11 |
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