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首頁 SCI期刊 物理與天體物理 中科院3區 期刊介紹(非官網)
Infrared Physics & Technology雜志

Gold OA文章占比:4.48%

OA被引用占比:0.0214...

開源占比:0.0259

研究類文章占比:99.16%

Infrared Physics & Technology

國際標準簡稱:INFRARED PHYS TECHN

人氣 1338

《Infrared Physics & Technology》是一本專注于INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領域的English學術期刊,創刊于1994年,由Elsevier出版商出版,出版周期Bimonthly。該刊發文范圍涵蓋INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION等領域,旨在及時、準確、全面地報道國內外INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。該刊已被SCIE數據庫收錄,在中科院最新升級版分區表中,該刊分區信息為大類學科物理與天體物理2區,2023年影響因子為3.1。

  • 3區

    中科院分區
  • Q2

    JCR分區
  • SCIE

    期刊收錄
  • 是否預警
ISSN:1350-4495
出版地區:NETHERLANDS
出版周期:Bimonthly
E-ISSN:1879-0275
創刊時間:1994
出版語言:English
是否OA開放訪問:未開放
研究方向:光學-物理
影響因子:3.1
年發文量:475
出版商:Elsevier
平均審稿速度: 約3.0個月 約8.1周

Infrared Physics & Technology期刊簡介

The Journal covers the entire field of infrared physics and technology: theory, experiment, application, devices and instrumentation. Infrared' is defined as covering the near, mid and far infrared (terahertz) regions from 0.75um (750nm) to 1mm (300GHz.) Submissions in the 300GHz to 100GHz region may be accepted at the editors discretion if their content is relevant to shorter wavelengths. Submissions must be primarily concerned with and directly relevant to this spectral region.

Its core topics can be summarized as the generation, propagation and detection, of infrared radiation; the associated optics, materials and devices; and its use in all fields of science, industry, engineering and medicine.

Infrared techniques occur in many different fields, notably spectroscopy and interferometry; material characterization and processing; atmospheric physics, astronomy and space research. Scientific aspects include lasers, quantum optics, quantum electronics, image processing and semiconductor physics. Some important applications are medical diagnostics and treatment, industrial inspection and environmental monitoring.

Infrared Physics & Technology中科院分區

中科院分區2023年12月升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 3區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 3區 3區 3區

中科院分區2022年12月升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 3區 3區 3區

中科院分區2021年12月舊的升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區

中科院分區2021年12月基礎版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理 3區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 3區 3區 4區

中科院分區2021年12月升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區

中科院分區2020年12月舊的升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
物理與天體物理 2區 OPTICS 光學 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區

中科院分區:中科院分區是SCI期刊分區的一種,是由中國科學院國家科學圖書館制定出來的分區。主要有兩個版本,即基礎版和升級版。2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區表推出了升級版,實現了基礎版和升級版的并存過渡;升級版是對基礎版的延續和改進,將期刊由基礎版的13個學科擴展至18個,科研評價將更加明確。

JCR分區(2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 25 / 76
67.8%
學科:OPTICS SCIE Q2 37 / 119
69.3%
學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 63 / 179
65.1%
按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 24 / 76
69.08%
學科:OPTICS SCIE Q2 43 / 120
64.58%
學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 55 / 179
69.55%

JCR分區:JCR(Journal Citation Reports)由科睿唯安公司(前身為湯森路透)開發。JCR沒有設置大類,只將期刊分為176個具體學科,也就是中科院分區中的小類學科。基于不同學科的當年影響因子高低進行排序,將期刊的數量均勻分為四個部分,Q1區代表學科分類中影響因子排名前25%的期刊,以此類推,Q2區為前25%-50%期刊,Q3區為前50%-75%期刊,Q4區為75%以后期刊。

CiteScore 指數(2024年最新版)

  • CiteScore:5.7
  • SJR:0.565
  • SNIP:1.043

CiteScore排名:

學科類別 分區 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Condensed Matter Physics Q2 116 / 434
73%
大類:Physics and Astronomy 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 63 / 224
72%
大類:Physics and Astronomy 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 83 / 284
70%

CiteScore值計算方式:例如2024公布的CiteScore是將統計在 2020年-2023年間年所發表文章的引用次數除以在 2020年-2023年間所發表的發文總數。

CiteScore數據來源:是由全球著名學術出版商Elsevier(愛思唯爾)基于其Scopus數據庫推出的期刊評價指標。CiteScore指數以四年區間為基準來計算每本期刊的平均被引用次數,并提供期刊領域排名、期刊分區的相關信息,它的作用是測量期刊的篇均影響力。

其它數據分析對比

近年中科院分區趨勢圖

近年IF值(影響因子)趨勢圖

影響因子:是美國科學信息研究所(ISI)的期刊引證報告(JCR)中的一項數據。指的是某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。自1975年以來,每年定期發布于“期刊引證報告”(JCR)。

發文統計(統計區間:2023年-2024年)

國家/地區 發文量
CHINA MAINLAND 690
India 61
USA 58
Iran 39
England 32
Poland 30
Russia 28
South Korea 23
Canada 22
Italy 19
文章引用名稱 引用次數
Optical remote sensing image... 28
Towards a table-top synchrot... 19
Robust contact-point detecti... 19
Two dimensional materials ba... 17
An overview of corrosion def... 17
Nondestructive measurement o... 16
Infrared and visible image f... 16
An infrared small target det... 12
Infrared small target detect... 11
Midwave infrared barrier det... 11
被引用期刊名稱 數量
INFRARED PHYS TECHN 721
IEEE ACCESS 182
SENSORS-BASEL 101
REMOTE SENS-BASEL 85
OPTIK 84
APPL OPTICS 64
OPT QUANT ELECTRON 61
APPL SCI-BASEL 49
MATER RES EXPRESS 49
OPT EXPRESS 49
引用期刊名稱 數量
INFRARED PHYS TECHN 721
APPL PHYS LETT 261
OPT EXPRESS 195
APPL OPTICS 172
IEEE T GEOSCI REMOTE 163
J APPL PHYS 155
NDT&E INT 136
OPT LETT 123
IEEE T IMAGE PROCESS 116
J ELECTRON MATER 105

投稿注意事項

文章要求:

1、建議稿件控制10頁以上,文章撰寫語言為英語;(單欄格式,單倍行距,內容10號字體,文稿類型包含:原創研究(Original Research)、案例報告(Case Report)、文獻綜述(Literature Review)等;文件格式包含word、PDF、LaTeX等。

2、稿件重復率控制10%以內,論文務必保證原創性、圖標、公式、引文等要素齊備,保證附屬資料的完整。已發表或引用過度的文章將不會被出版和檢索,禁止一稿多投,拒絕抄襲、機械性的稿件。

3、稿件必須有較好的英語表達水平,有圖,有表,有公式,有數據或設計,有算法(方案,模型),實驗,仿真等;參考文獻控制25條以上,參考文獻引用一半以上控制在近5年以內。

圖片和圖表要求:

1、建議使用TIFF、EPS、JPEG格式 ,TIFF格式 使用LZW壓縮。

2、文件大小最大不超過20MB,不要以單個文件的形式上傳數據。

3、彩色圖片的分辨率≥300dpi;黑白圖片的分辨率在≥500dpi;line art圖片類型的分辨率≥1000dpi;色彩模式建議采用RGB,除非期刊注明要CMYK。

4、線條不要細于0.25pt,也不能太粗,超過1.5pt,過細或過粗都影響美觀。

5、表格一般和manuscrript放置在一個word文檔里部分期刊 需要單獨上傳表格。

作者信息:

1、包括作者姓名、最高學位,作者單位(精確到部門),郵箱,地址,郵編,關鍵詞,內容,總結,項目基金,參考文獻,作者相片+簡介(一定要確保作者信息準確無誤,提交稿件之后這部分不能再作改動)。

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雜志社聯系方式

ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE

免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE。

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