中科院分區在SCI期刊中具有重要地位，主要體現在以下幾個方面：

投稿參考：中科院分區為科研人員選擇投稿期刊提供了重要依據。高分區期刊通常具有較高的學術聲譽和影響力，科研人員可以根據自己的研究領域和成果水平，選擇合適分區的期刊投稿，提高論文被接受和發表的機會。

學術評價：國內許多高校和科研機構在對科研人員進行績效考核、職稱評定、科研獎勵等方面，常常將中科院分區作為重要的評價指標之一。

學術影響力提升：進入中科院分區表是對期刊學術質量和影響力的一種認可，尤其是對于一些新興期刊或發展中的期刊來說，獲得較好的分區能夠吸引更多優秀的稿件和讀者，進一步提升期刊的學術影響力。

雜志簡介

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》是一本在工程技術領域具有重要影響力的學術期刊，由出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版，出版地區為：UNITED STATES。

一、基本信息

創刊時間：2001年
出版周期：Quarterly
ISSN：1530-4388，E-ISSN：1558-2574

定位：

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設備、材料、工藝、接口、集成微系統（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應用。從概念階段到研發再到制造規模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產品推向市場提供了設備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數據庫。這個可靠性數據庫是滿足客戶期望的優質產品的基礎。這樣開發的產品具有高可靠性。高質量將實現，因為產品弱點將被發現（根本原因分析）并在最終產品中設計出來。這個不斷提高可靠性和質量的過程將產生卓越的產品。歸根結底，可靠性和質量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產品在客戶條件下在現場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關注電子材料和設備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇。總體目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產品的創造至關重要。

二、內容特色

內容特色：文章風格兼顧專業性與可讀性，適合不同背景的讀者。

三、學科領域與覆蓋范圍

主要學科：工程技術-工程：電子與電氣。
覆蓋范圍：該刊發文范圍涵蓋ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等領域。

四、學術影響力與評價

影響因子與分區：《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志的影響因子為2.5 ，JCR分區：Q2區，中科院分區：大類學科：工程技術，分區：3區，小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣，分區：3區。

發文量與Gold OA占比：年發文量：72，Gold OA文章占比：24.52%。