《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》中文名稱：《IEEE Transactions on Device and Materials Reliability》，創刊于2001年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期Quarterly。

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設備、材料、工藝、接口、集成微系統（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應用。從概念階段到研發再到制造規模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產品推向市場提供了設備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數據庫。這個可靠性數據庫是滿足客戶期望的優質產品的基礎。這樣開發的產品具有高可靠性。高質量將實現，因為產品弱點將被發現（根本原因分析）并在最終產品中設計出來。這個不斷提高可靠性和質量的過程將產生卓越的產品。歸根結底，可靠性和質量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產品在客戶條件下在現場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關注電子材料和設備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇。總體目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產品的創造至關重要。

投稿《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》需要準備的文件可詳細閱讀以下要求：

文章要求：

1、建議稿件控制10頁以上，文章撰寫語言為英語；（單欄格式，單倍行距，內容10號字體，文稿類型包含：原創研究(Original Research)、案例報告(Case Report)、文獻綜述(Literature Review)等；文件格式包含word、PDF、LaTeX等。

2、稿件重復率控制10%以內，論文務必保證原創性、圖標、公式、引文等要素齊備，保證附屬資料的完整。已發表或引用過度的文章將不會被出版和檢索，禁止一稿多投，拒絕抄襲、機械性的稿件。

3、稿件必須有較好的英語表達水平，有圖，有表，有公式，有數據或設計，有算法（方案，模型），實驗，仿真等；參考文獻控制25條以上，參考文獻引用一半以上控制在近5年以內。

圖片和圖表要求：

1、建議使用TIFF、EPS、JPEG格式 ，TIFF格式 使用LZW壓縮。

2、文件大小最大不超過20MB，不要以單個文件的形式上傳數據。

3、彩色圖片的分辨率≥300dpi；黑白圖片的分辨率在≥500dpi；line art圖片類型的分辨率≥1000dpi；色彩模式建議采用RGB，除非期刊注明要CMYK。

4、線條不要細于0.25pt,也不能太粗，超過1.5pt,過細或過粗都影響美觀。

5、表格一般和manuscrript放置在一個word文檔里部分期刊 需要單獨上傳表格。

作者信息：

1、包括作者姓名、最高學位，作者單位（精確到部門），郵箱，地址，郵編，關鍵詞，內容，總結，項目基金，參考文獻，作者相片+簡介（一定要確保作者信息準確無誤，提交稿件之后這部分不能再作改動）。

更多征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站專注期刊咨詢服務十年，確保SCI檢索，稿件信息安全保密，合乎學術規范不成功不收費，詳情請咨詢客服。

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