來(lái)源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:37:12
《Acm Transactions On Design Automation Of Electronic Systems》中文名稱：《Acm 電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)自動(dòng)化交易》，創(chuàng)刊于1996年，由Association for Computing Machinery (ACM)出版商出版，出版周期Quarterly。
TODAES 是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)和自動(dòng)化領(lǐng)域的頂級(jí) ACM 期刊。它發(fā)表創(chuàng)新性作品，記錄電子系統(tǒng)規(guī)范、設(shè)計(jì)、分析、模擬、測(cè)試和評(píng)估方面的重大研究和開(kāi)發(fā)進(jìn)展，強(qiáng)調(diào)計(jì)算機(jī)科學(xué)/工程方向。理論分析和實(shí)際解決方案都受歡迎。
旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國(guó)內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)等。
| 機(jī)構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
| INDIAN INSTITUTE OF TEC... | 16 |
| STATE UNIVERSITY SYSTEM... | 15 |
| DUKE UNIVERSITY | 11 |
| UNIVERSITY OF CALIFORNI... | 11 |
| ARIZONA STATE UNIVERSIT... | 8 |
| CHINESE UNIVERSITY OF H... | 8 |
| NATIONAL YANG MING CHIA... | 7 |
| INDIAN STATISTICAL INST... | 6 |
| INTEL CORPORATION | 6 |
| PURDUE UNIVERSITY SYSTE... | 6 |
| 國(guó)家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
| USA | 94 |
| CHINA MAINLAND | 39 |
| India | 22 |
| Taiwan | 20 |
| GERMANY (FED REP GER) | 15 |
| South Korea | 11 |
| Canada | 9 |
| Italy | 6 |
| Brazil | 5 |
| Japan | 5 |
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| Emerging NVM: A Survey on Ar... | 8 |
| CAD-Base: An Attack Vector i... | 6 |
| Flexible Droplet Routing in ... | 5 |
| Thermal-Sensor-Based Occupan... | 4 |
| Performance-Aware Test Sched... | 4 |
| Enhancements to SAT Attack: ... | 3 |
| Exploiting Chip Idleness for... | 3 |
| Toward Effective Reliability... | 3 |
| Graph-Grammar-Based IP-Integ... | 2 |
| Instruction-Level Abstractio... | 2 |
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 50 |
| IEEE T COMPUT AID D | 44 |
| IEEE ACCESS | 43 |
| ACM T EMBED COMPUT S | 21 |
| IEEE T VLSI SYST | 18 |
| INTEGRATION | 16 |
| J CIRCUIT SYST COMP | 14 |
| J SYST ARCHITECT | 12 |
| J PARALLEL DISTR COM | 11 |
| ACM COMPUT SURV | 9 |
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 95 |
| IEEE T VLSI SYST | 61 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 50 |
| IEEE T COMPUT | 40 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 37 |
| IEEE T ELECTRON DEV | 33 |
| IEEE DES TEST | 25 |
| P IEEE | 25 |
| J POWER SOURCES | 21 |
| ACM T EMBED COMPUT S | 20 |
聲明：該作品系作者結(jié)合互聯(lián)網(wǎng)公開(kāi)知識(shí)整合。如有錯(cuò)漏請(qǐng)聯(lián)系我們，我們將及時(shí)更正。
