來源：學術之家整理 2025-03-18 15:37:05
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》影響因子查詢可以通過以下幾種方法：
1.?通過期刊官網或數據庫查詢
期刊官網：訪問Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing的官方網站。
Journal Citation Reports (JCR)：由Clarivate Analytics發布，是專門提供期刊引證報告的工具，可通過期刊名、ISSN/EISSN號等進行檢索，查看期刊的影響因子及分區情況。
2.?通過學術平臺或工具查詢：
知網：國內研究者可以使用中國知網的高級檢索功能，勾選“期刊導航”后輸入刊名，在詳情頁查看復合影響因子、綜合影響因子等本土化指標。
3.?通過圖書館或學術資源
中科院分區查詢：過中科院的分區查詢系統，輸入期刊名稱即可查看影響因子和分區。
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版，專注于地球科學-成像科學與照相技術領域研究的學術期刊，創刊于2008年，其ISSN為1939-1404，E-ISSN為2151-1535。該刊為Monthly，重點介紹在IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY領域的最新關鍵主題。這些文章旨在為尚未深入研究該領域的讀者提供最新的、完整的主題總結，幫助他們快速了解相關領域的核心內容。
該雜志已被SCIE數據庫收錄， 在中科院分區中，《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》位于大類學科：地球科學，分區為3區，小類學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY成像科學與照相技術，分區為：2區。
而在JCR分區中，它被歸為Q1。這表明該期刊在成像科學與照相技術領域具有較高的學術影響力和認可度。
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 73 / 352 |
79.4%
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| 學科：GEOGRAPHY, PHYSICAL | SCIE | Q1 | 7 / 65 |
90%
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| 學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q1 | 8 / 36 |
79.2%
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| 學科：REMOTE SENSING | SCIE | Q1 | 12 / 62 |
81.5%
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| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 77 / 354 |
78.39%
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| 學科：GEOGRAPHY, PHYSICAL | SCIE | Q1 | 11 / 65 |
83.85%
|
| 學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q1 | 8 / 36 |
79.17%
|
| 學科：REMOTE SENSING | SCIE | Q1 | 12 / 62 |
81.45%
|
JCR分區：JCR（Journal Citation Reports）由科睿唯安公司（前身為湯森路透）開發。JCR沒有設置大類,只將期刊分為176個具體學科，也就是中科院分區中的小類學科?；诓煌瑢W科的當年影響因子高低進行排序，將期刊的數量均勻分為四個部分，Q1區代表學科分類中影響因子排名前25%的期刊，以此類推，Q2區為前25%-50%期刊，Q3區為前50%-75%期刊，Q4區為75%以后期刊。
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