來源：學術之家整理 2025-03-18 15:36:27
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》中文名稱：《儀器儀表和測量的IEEE Transactions》，創刊于1952年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期Bimonthly。
征集的論文應涉及創新解決方案，以開發和使用電氣和電子儀器和設備來測量、監控和/或記錄物理現象，從而推動測量科學、方法、功能和應用的發展。這些論文的范圍可能包括：(1) 測量的理論、方法和實踐；(2) 用于生成、獲取、調節和處理信號的儀器和測量系統及組件的設計、開發和評估；(3) 分析、表示、顯示和保存從一組測量中獲得的信息；(4) 對儀器和測量領域技術標準的建立和維護提供科學和技術支持。
旨在及時、準確、全面地報道國內外ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。
| 國家/地區 | 發文量 |
| CHINA MAINLAND | 696 |
| Italy | 237 |
| USA | 215 |
| India | 144 |
| England | 101 |
| Canada | 92 |
| GERMANY (FED REP GER) | 70 |
| Spain | 53 |
| South Korea | 47 |
| Brazil | 38 |
| 文章引用名稱 | 引用次數 |
| Automatic Defect Detection o... | 54 |
| Intelligent Bearing Fault Di... | 53 |
| Medical Image Fusion With Pa... | 43 |
| Monitoring of Large-Area IoT... | 40 |
| Vibration-Based Intelligent ... | 34 |
| Deep Architecture for High-S... | 26 |
| Highly Sensitive SPR Biosens... | 26 |
| RideNN: A New Rider Optimiza... | 25 |
| An Unsupervised-Learning-Bas... | 21 |
| A CNN-Based Defect Inspectio... | 20 |
| 被引用期刊名稱 | 數量 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE ACCESS | 940 |
| SENSORS-BASEL | 761 |
| IEEE SENS J | 555 |
| MEASUREMENT | 390 |
| ENERGIES | 245 |
| APPL SCI-BASEL | 194 |
| ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
| IEEE T IND ELECTRON | 149 |
| MEAS SCI TECHNOL | 149 |
| 引用期刊名稱 | 數量 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE SENS J | 265 |
| IEEE T IND ELECTRON | 205 |
| MEAS SCI TECHNOL | 203 |
| SENSORS-BASEL | 177 |
| IEEE T MICROW THEORY | 174 |
| METROLOGIA | 167 |
| IEEE T POWER DELIVER | 162 |
| MEASUREMENT | 151 |
| MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
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